RAVEN INDUSTRIES, INC.;VAN ROEKEL, Jeffrey Allen;PREHEIM, John D.;SNEYDERS, Yuri
发明人:
SNEYDERS, Yuri,PREHEIM, John D.,VAN ROEKEL, Jeffrey Allen
申请号:
USUS2019/041469
公开号:
WO2020/014527A1
申请日:
2019.07.11
申请国别(地区):
US
年份:
2020
代理人:
摘要:
System and techniques for calibrating a crop row computer vision system are described herein. An image set that includes crop rows and furrows is obtained. Models of the field are searched to find a model that best fits the field. A calibration parameter is extracted from the model and communicated to a receiver.L'invention concerne un système et des techniques d'étalonnage d'un système de vision artificiel de rangées de culture. Un ensemble d'images qui comprend des rangées et des sillons de culture est obtenu. Des modèles du champ sont explorés pour trouver un modèle qui correspond le mieux au champ. Un paramètre d'étalonnage est extrait du modèle et communiqué à un récepteur.