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超音波探触子、超音波探触子の製造方法、および超音波検査装置
专利权人:
株式会社東芝
发明人:
加藤 視紅磨,須藤 正昭
申请号:
JP2008113806
公开号:
JP5230248B2
申请日:
2008.04.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ultrasonic probe ensuring high productivity, a method of manufacturing an ultrasonic probe and an ultrasonograph.SOLUTION: The ultrasonic probe includes: a load section absorbing ultrasonic waves a plurality of ultrasonic transducers disposed on one major surface side of the load section and placed adjacent to each other with gaps and a coupling section disposed in the vicinity of the load section between the ultrasonic transducers, for coupling the ultrasonic transducers. The coupling section contains a filler having hardness higher than that of the ultrasonic transducers.COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT【課題】本発明は、生産性が高い超音波探触子、超音波探触子の製造方法、および超音波検査装置を提供する。【解決手段】超音波を吸収する負荷部と、前記負荷部の一方の主面側に設けられ、間隔をあけて並置された複数の超音波振動子と、前記超音波振動子同士の間の前記負荷部の近傍に設けられ、前記超音波振動子同士を連結する連結部と、を備え、前記連結部は、前記超音波振動子の硬度よりも高い硬度のフィラーを含有してなること、を特徴とする超音波探触子が提供される。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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