A specimen radiography system may include a controller and a cabinet. The cabinet may include an x-ray source, an x-ray detector, and a specimen drawer disposed between the x-ray source and the x-ray detector. The specimen drawer may be automatically positionable along a vertical axis between the x-ray source and the x-ray detector.Selon l'invention, un système de radiographie d'échantillon peut comprendre un dispositif de commande et une armoire. L'armoire peut comprendre une source de rayons x, un détecteur de rayons x, et un tiroir d'échantillon disposé entre la source de rayons x et le détecteur de rayons x. Le tiroir d'échantillon peut être automatiquement positionné le long d'un axe vertical entre la source de rayons x et le détecteur de rayons x.
