Method and instrument for characterizing a material using a test probe constructed for insertion into the material, optionally with a reference probe constructed either for insertion into the material or to contact another material without insertion. The test probe is inserted at least a microdistance into the material (i) together with insertion of the reference probe into the material, (ii) with the reference probe contacting another material, or (iii) without a reference probe, and then withdrawn. The material property is determined by measuring an interaction of the test probe with the material, which may be related to the insertion of the test probe into the material, the movement of the test probe in the material, and/or the withdrawal of the test probe from the material.Linvention concerne un procédé et un instrument pour caractériser un matériau en utilisant une sonde de test réalisée pour une insertion dans le matériau, facultativement avec une sonde de référence construite pour une insertion dans le matériau, ou pour un contact avec un autre matériau sans insertion. La sonde de test est insérée au moins sur une microdistance dans le matériau (i) en même temps que linsertion de la sonde de référence dans les matériaux, (i) la mise en contact de sonde de référence avec un autre matériau, ou (ii) sans une sonde de référence, puis est retirée. La propriété de matériau est déterminée en mesurant linteraction de la sonde de test avec le matériau, qui peut être en rapport avec linsertion de la sonde de test dans le matériau, le déplacement de la sonde de test dans le matériau, et/ou le retrait de la sonde de test depuis le matériau.
