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位置測定システムを持つ光学プローブ
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
发明人:
ヘゼマンズ コルネリウス エイ,ヘンドリクス ベルナルドゥス エイチ ダブリュ,ビエルホフ ワルテルス シー ジェイ,ブラウン アウグスティヌス エル,デスジャルディンス アドリエン イー
申请号:
JP2011532756
公开号:
JP2012506721A
申请日:
2009.10.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
This invention relates to an optical probe (200) and an optical imaging system, including an optical guide (201) having a proximal end and a distal end, an actuation means having driving coils (204) and a magnet, with of which being attached to the optical guide. By supplying a driving current through the driving coils a magnetic flux is generated which interacts with the magnet forming a driving force acting at on the optical guide causing a displacement of the distal end of the optical guide. A position measuring including a position measuring coil (205) is used for monitoring the position of the optical guide, where the internal arrangement of the position measuring coil and the driving coils is such that said displacement of the distal end of the optical guide causes a change in the internal arrangement. A power supply supplies an additional high frequency alternating current (AC) through the driving coils which causes an induced voltage in the position measuring coil and thus generates a magnetic coupling between the position measuring coil and the driving coils. A position measuring means measures the displacement of the distal end of the optical guide by means of measuring the induced voltage resulting in when the internal arrangement changes. This induced voltage change being indicative for the position of the distal end.本発明は、近位端部及び遠位端部を持つ光学ガイド201と、駆動コイル204と磁石とを持つ作動手段とを含む、光学プローブ200及び光学撮像システムに関する。上記コイル及び上記磁石のいずれかが光学ガイドに付けられる。上記駆動コイルを通る駆動電流を供給することにより、上記磁石と相互作用する磁束が生成され、上記磁石が、上記光学ガイドの遠位端部の変位をもたらす上記光学ガイド上で作用する駆動力を形成する。位置測定コイル205を含む位置測定部は、上記光学ガイドの位置を監視するのに用いられる。ここで、上記位置測定コイル及び上記駆動コイルの内部構成は、上記光学ガイドの遠位端部の変位が上記内部構成における変化をもたらすようにされる。電源は、上記駆動コイルを通る追加的な高周波数の交流ACを供給する。この電流は、上記位置測定コイルにおける誘導電圧をもたらし、及びこうして上記位置測定コイルと上記駆動コイルとの間の磁気結合を生成する。上記内部構成が変化するとき生じる上記誘導電圧を測定することにより、位置測定手段は、上記光学ガイドの遠位端部の変位を測定する。この誘導電圧の変化は、上記遠位端部の位置を示す。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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