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MARQUEURS DE RAYONS X POUR ÉCHAFAUDAGES
专利权人:
BIOTRONIK AG
发明人:
BAYER, Ullrich,RISCH, Fabian,RIEDMÜLLER, Johannes,QUINT, Bodo
申请号:
EPEP2018/050345
公开号:
WO2018/130489A1
申请日:
2018.01.08
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要:
The invention relates to a method for producing x-ray markers (1), during which method a predetermined breaking point (21) is severed in order to detach x-ray markers (1) from part (22) of a material layer (2). The invention also relates to an x-ray marker, a medical implant, and a semifinished product.L'invention concerne un procédé de production de marqueurs de rayons x (1), pendant lequel un point de rupture (21) prédéterminé est coupé pour détacher des marqueurs de rayons x (1) d'une partie (22) d'une couche de matériau (2). L'invention concerne également un marqueur de rayons x, un implant médical et un produit semi-fini
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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