PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress the degradation of a charge conversion layer and to prevent an electrical wire for applying a bias voltage to the charge conversion layer from being obstructive until the manufacturing final process of a radiation detector.SOLUTION: An extension electrode part 431 is electrically connected to a high-voltage wire 432 in a domain having no photoconductive layer on a glass substrate 408, and a bias voltage is applied from the extension electrode part 431 to a photoconductive layer 404 through a bias electrode 401. Thus, a pressure imparted to the photoconductive layer 404 is reduced, and deterioration of the photoconductive layer 404 can be suppressed. Since the high-voltage wire 432 and the extension electrode part 431 are connected by a pin 456 and a plug 446, the high-voltage wire 432 and the extension electrode part 431 can be connected in the manufacturing final process of the radiation detector 400, and the high-voltage wire 432 for applying the bias voltage to the photoconductive layer 404 is prevented from being obstructive until the manufacturing final process of the radiation detector 400.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】電荷変換層の劣化を抑制すると共に、放射線検出器の製造最終工程まで、電荷変換層へバイアス電圧を印加するための電線が邪魔にならないようにする。【解決手段】延長電極部431は、ガラス基板408上の光導電層の無い領域で、高電圧線432と電気的に接続されており、延長電極部431からバイアス電極401を介して光導電層404へバイアス電圧が印加される。このため、光導電層404へ付与される圧力が軽減され、光導電層404の劣化を抑制できる。また、高電圧線432と延長電極部431との接続が、ピン456及びプラグ446により行われるので、放射線検出器400の製造最終工程で、高電圧線432と延長電極部431とを接続することができ、放射線検出器400の製造最終工程まで、光導電層404へバイアス電圧を印加するための高電圧線432が邪魔とならない。【選択図】図5
