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INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
专利权人:
ソニー株式会社;SONY CORP
发明人:
MITANI HITOSHI,三谷 均,WAKAZONO MASAFUMI,若園 雅史
申请号:
JP2016159854
公开号:
JP2018029251A
申请日:
2016.08.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To excellently perform desired inspection.SOLUTION: An inspection apparatus comprises a plurality of detection regions for each wavelength range. Each of the detection regions is made up of a plurality of sensor elements, arranged in a matrix, which detect light in the same wavelength range. The plurality of sensor elements are arranged such that adjacent ones of them detect light in polarization directions different from each other, while being disposed as a set in a number of the polarization directions. Each of the detection regions is formed into a rectangular shape elongated in a first direction. When viewed along a second direction perpendicular to the first direction, the detection regions in all the wavelength ranges to be detected are arranged in at least one or more locations. The present technique can be applied, for example, to an inspection apparatus for inspecting vegetation.SELECTED DRAWING: Figure 2【課題】所望の検査を良好に行えるようにする。【解決手段】行列状に配置された、同一の波長域の光を検出する複数のセンサ素子からなる検出領域を、波長域ごとに複数備え、複数のセンサ素子は、互いに異なる偏光方向の光を検出するセンサ素子が隣接するとともに、偏光方向の数からなるセットごとに配置される。また、検出領域は、第1の方向に沿って細長い矩形形状に形成され、第1の方向に対して直交する第2の方向に沿って見たときに、検出される全ての波長域の検出領域が、少なくとも1カ所以上に配置される。本技術は、例えば、植生を検査する検査装置に適用できる。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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