sequential wavefront sensor beam scanning module 212, the sub-wavefront focusing lens 220, one or more a photosensitive detector which has a region 222, and the sub-calculating the centroid of the light spot sequentially obtained from the wave front focused by a processor for determining the aberration of the incident wave front. Progressive wave detection method, a plurality of sub-unit a wavefront-sensitive and at least one wave front focusing lens comprising the steps of sequentially projected on the detector which has an area, each sub-step of calculating the centroid of the focused light spot from the wave front and, a step of processing the information to determine the centroid of the wave front aberration. In particular, automatic chojeop control and / or auto-aberration-correction method, a plurality of sub-wavefront sub-step of sequentially projected onto the wave front and the focusing lens and the detector around the annular ring of the wave front, by calculating the trace of the centroid defocus and / or each part to determine the astigmatism-calculating the centroid of the focused light spots of the wavefront, the wavefront sensor from the front to be measured by adjusting the focus and / or astigmatism of the optical imaging system and the defocus / or astigmatism comprises the steps to a minimum.순차 파면 센서는 광선 스캐닝 모듈(212), 부-파면 집속 렌즈(220), 하나 이상의 감광성 영역을 갖추고 있는 검출기(222) 및 부-파면으로부터 순차적으로 얻은 초점이 맞춰진 광점의 센트로이드들을 계산하여 입사 파면의 수차를 결정하는 프로세서를 포함한다. 순차 파면 검출 방법은, 복수의 부-파면을 부-파면 집속 렌즈와 하나 이상의 감광성을 영역을 갖추고 있는 검출기 위에 순차적으로 투영하는 단계와, 각 부-파면으로부터 집속된 광점의 센트로이드를 계산하는 단계와, 파면의 수차를 결정하기 위해 상기 센트로이드 정보를 처리하는 단계를 포함한다. 특히, 자동 초접 조절 및/또는 자동-수차-교정 방법은, 복수의 부-파면을 부-파면 집속 렌즈와 검출기에 파면의 환상 링 주위로 순차적으로 투영하는 단계와, 센트로이드의 자취를 계산하여 디포커스 및/또는 비점수차를 결정하기 위해 각 부-파면의 집속된 광점의 센트로이드를 계산하는 단계와, 파면 센서 전방에서 광학 영상 시스템의 초점 및/또는 비점수차를 조절해서 측정되는 디포커스 및/또는 비점수차가 최소로 되는 단계를 포함한다.
