Some embodiments of the present invention provide apparatus for detecting particles of radiation comprising: a plurality of solid state semiconductor detector devices provided at spaced apart locations along a beam axis, the detector devices each being configured to generate an electrical signal indicative of passage of a particle through or absorption of a particle by the device； and at least one absorber portion configured to absorb at least a portion of an energy of a particle, wherein one said at least one absorber portion is provided in a particle path between at least one pair of adjacent detector devices, the apparatus being configured to provide an output signal indicative of the energy of a particle, the output signal provided being dependent on the electrical signals indicative of passage of a particle through or absorption of a particle by the devices.Certains modes de réalisation de la présente invention concernent un appareil pour détecter des particules de rayonnement, comprenant : une pluralité de dispositifs de détecteur à semi-conducteurs à l'état solide situés à des emplacements espacés le long d'un axe de faisceau, les dispositifs de détecteur étant chacun configurés pour générer un signal électrique indiquant le passage d'une particule à travers le dispositif ou l'absorption d'une particule par ce dernier ； et au moins une partie d'absorbeur configurée pour absorber au moins une partie de l'énergie d'une particule, ladite au moins une partie d'absorbeur étant située dans un trajet de particule entre au moins une paire de dispositifs de détecteur adjacents, l'appareil étant configuré pour fournir un signal de sortie indiquant l'énergie d'une particule, le signal de sortie dépendant des signaux électriques indiquant le passage d'une particule à travers les dispositifs ou l'absorption d'une particule par ces derniers.
