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APPAREIL DE BALAYAGE À RAYONS X À DÉTECTEUR PLEIN CHAMP
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP16734235.1
公开号:
EP3316782A1
申请日:
2016.06.24
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要:
An X-ray imaging apparatus with an interferometer (IF) and an X-ray detector (D). A footprint of the X-ray detector (D) is larger than a footprint of the interferometer (IF). The interferometer is moved in scan motion across the detector (D) whilst the detector (D) remains stationary. Preferably the detector is a 2D full field detector.La présente invention concerne un appareil d'imagerie à rayons X comprenant un interféromètre (IF) et un détecteur de rayons X (D). Une empreinte du détecteur à rayons X (D) est supérieure à une empreinte de l'interféromètre (IF). L'interféromètre parcourt le détecteur (D) dans un mouvement de balayage tandis que le détecteur (D) reste fixe. De préférence, le détecteur est un détecteur 2D plein champ.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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