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化粧料付着状態解析方法、化粧料付着状態解析装置、化粧料付着状態解析プログラム、及び該プログラムが記録された記録媒体
专利权人:
株式会社;資生堂
发明人:
棟方 明博,舛田 勇二,國澤 直美,佐藤 功,亀井 雅人
申请号:
JP2007089739
公开号:
JP4921222B2
申请日:
2007.03.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To highly precisely analyze an adhesive state of cosmetic from a skin image.SOLUTION: The method for analyzing a cosmetic adhesive state which analyzes the adhesive state of the cosmetic by using the skin image within a prescribed range of a photographed subject comprises: an analysis step for analyzing the adhesive state by expressing at least one out of an adhesive amount of cosmetic worn on the skin of the subject, unevenness, or roughness numerically from the skin image and an accumulation step for associating the skin image and an analysis result obtained at the analysis step with subject information, and accumulating it.COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT【課題】肌画像から化粧料の付着状態を高精度に解析する。【解決手段】撮影された被験者の所定範囲の肌画像を用いて化粧料の付着状態の解析を行う化粧料付着状態解析方法において、前記肌画像から前記被験者の肌に塗布された化粧料の付着量、不均一度、及び粗さ度のうち、少なくとも1つを数値化して前記化粧料の付着状態を解析する解析ステップと、前記肌画像と、前記解析ステップから得られる解析結果とを、被験者情報と関連付けて蓄積する蓄積ステップとを有することにより、上記課題を解決する。【選択図】図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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