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ANALYZER AND METHOD FOR ANALYSIS
专利权人:
SEIKO EPSON CORP;セイコーエプソン株式会社
发明人:
KATASE MAKOTO,片瀬 誠,KOIDE YASUNORI,小出 泰紀,TOTANI TAKASHI,戸谷 隆史,KITAZAWA SACHIYUKI,北澤 幸行,MOMOSE YOSHIHIKO,百瀬 嘉彦,HIGUCHI SATOSHI,樋口 聡
申请号:
JP2018029724
公开号:
JP2019144160A
申请日:
2018.02.22
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To simplify the structure for generating a spectrum with less errors when the amount of light in the light emission part is changed.SOLUTION: The analyzer includes: a light emission part for emitting light; a specification part for specifying the spectrum of light emitted from the light emission part and reflected by the inside of a measurement target body; a measurement part for measuring the electric power supplied to the light emission part; and a correction unit for correcting the spectrum, using the correction value according to the difference between the electric power measured by the measurement unit and a first reference value.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】発光部の光量が変動した場合に、誤差を低減したスペクトルを生成するための構成を簡素化する。【解決手段】光を出射する発光部と、前記発光部から出射して被測定体の内部で反射した光のスペクトルを特定する特定部と、前記発光部に供給される電力を測定する測定部と、前記測定部が測定した電力と第1基準値との相違に応じた補正値を利用して、前記スペクトルを補正する補正部とを具備する解析装置。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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