HA, TAE SUNG,하태성,LEE, SANG YOUNG,이상영,AHN, CHEOL,KIM, SANG WOOK,김상욱,JUNG, PYUNG HWAN,정평환
申请号：
KR1020100111335
公开号：
KR1020120050033A
申请日:
2010.11.10
申请国别(地区):
KR
年份:
2012
代理人:
摘要：
PURPOSE: An electronic beam radiator and a method thereof is provided to minimize the influence of an edge effect.CONSTITUTION: An electronic beam radiator comprises an entrance guide(1), a reflector(2), a transmission guide(3), an entrance conveyor(4), an under beam conveyor(5), and a transmission conveyor(6). The entrance guide is formed to have a wide entrance and a narrow exit in order to arrange the central axis of transferred products to correspond to the central axis of an electronic beam scanner. The reflector removes an edge effect by reflecting the electronic beam radiated from products or the electronic beam scanner to the inside. In the transmission conveyor, the transmission guide is arranged.COPYRIGHT KIPO 2012본 발명은 전자빔 균일 조사 장치 및 방법에 관한 것으로, 그 목적은 컨베이어를 통해 연속 공급되는 제품에 전자빔을 조사하여 가공시 제품의 중심축을 전자빔 스캐너의 중심축에 맞추어 공급하고, 제품 측면 쪽에 발생하는 모서리 효과를 구비된 리플렉터에 의해 최소화시킴으로써 균일한 선량을 가진 제품으로 가공되도록 한 전자빔 균일 조사 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.본 발명의 구성은 전자빔 가공을 위해 전자빔 가공대상 제품을 송입컨베이어, 언더 빔 컨베이어 및 송출컨베이어로 순환시키면서 언더 빔 컨베이어 상부에 장치된 전자빔 스캐너로부터 전자빔을 조사하여 가공하는 전자빔 조사장치에 있어서, 송입컨베이어에서 언더 빔 컨베이어로 제품을 공급하는 지점에 설치되어 이송중인 제품의 중심축을 전자빔 스캐너의 중심축에 맞게 정렬하도록 입구는 넓고 출구는 좁게 경사 가공된 송입가이드와 언더 빔 컨베이어의 일 지점 양측에 설치되어 제품 또는 전자빔 스캐너로부터 조사된 전자빔을 안쪽으로 반사시켜 모서리 효과를 제거하는 리플렉터를 포함하여 구성된 전자빔 균일 조사 장치 및 이를 이용한 균일 조사방법을 발명의 특징으로 한다.
