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一种应用激光快速检测并分选霉变谷粒的方法
专利权人:
中国农业科学院农产品加工研究所
发明人:
刘阳,李雅丽
申请号:
CN201210289311.5
公开号:
CN102784762B
申请日:
2012.08.14
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
关畅
摘要:
发明公开了一种应用激光快速检测并分选霉变谷粒或花生的方法。该方法包括下述步骤:选择与待测谷粒或花生同一品种的正常谷粒或花生作为对照,将对照品和待测样品在相同条件下,分别测定950nm-1120nm的激光透过率和640nm-850nm的激光透过率,计算950nm-1120nm的激光透过率和640nm-850nm的激光透过率的比值记为γ值;以对照的γ值作为参考值,将待测谷粒或花生的γ值与所述参考值进行比较,小于等于所述参考值的为正常谷粒或花生,大于所述参考值的为疑似霉变谷粒或花生。实验证明,应用γ值鉴定谷粒或花生是否发霉,是一种快速实时、操作简单、不破坏样品、安全的检测并分选霉变谷粒或花生的方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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