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一种基于光学三维测量的耳廓缺损测量方法
专利权人:
武汉惟景三维科技有限公司
发明人:
李中伟,詹国敏,钟凯
申请号:
CN201710897396.8
公开号:
CN107773246B
申请日:
2017.09.28
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本发明属于图像处理技术领域,公开了一种基于光学三维测量的耳廓缺损测量方法,包括下述步骤:利用结构光三维测量方法分别获取测试对象的两侧耳廓完整点云数据;将测量得到的点云数据拼合,以将点云统一到一个三维坐标系下;在三维坐标系下对拼合完成的耳廓点云进行分割,将完整的耳廓从点云数据中分割出来;将分割出来的点云数据投影至平面以创建外轮廓,获取点云投影面积并通过迭代优化得到点云最大投影面积;将测试对象两侧耳廓的最大投影面积相除,得到耳廓缺损比例;本发明的方法将结构光三维测量技术引入耳廓缺损鉴定领域,将高速三维测量技术与针对耳廓缺损鉴定提出的数据处理方法结合,实现了耳廓缺损测量方法的自动化。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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