This invention the phase which differs before the sensitivity element where two differs from array P of the sensitivity element i 1, b, P ia, P ib, P i+1, a, P i+1 and b, and/or regards the x-ray detector 30 which at least possesses with two which is arranged at period analyzer lattices G2a and G2b. It is desirable, for example as for the sensitivity element it is organized it is converted by the macro pixel of four contiguity sensitivity elementsi, the analyzer lattice which has the phase which differs mutually is arranged before the above-mentioned sensitivity element. To be applied to the x-ray device 100 in order to form the especially phase contrast picture it is possible detector 30. This is in order to make that it samples simultaneously the strength pattern I which is formed by such device in the position where it differs possible.本発明は、感受性素子のアレイPi-1,b,Pia,Pib,Pi+1,a,Pi+1,bと、2つの異なる感受性素子の前に異なる位相及び/又は周期で配置される少なくとも2つのアナライザ格子G2a,G2bとを有するX線検出器30に関する。好ましくは、感受性素子は例えば4つの隣接感受性素子のマクロピクセルΠiに組織化され、相互に異なる位相を持つアナライザ格子は上記感受性素子の前に配置される。検出器30は特に位相コントラスト画像を生成するためのX線装置100に適用されることができる。これはこうした装置によって生成される強度パターンIを異なる位置において同時にサンプリングすることを可能にするためである。
