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体調不良予測方法、体調不良予測プログラム、及び体調不良予測装置
专利权人:
富士通株式会社
发明人:
萩原 克守,土永 義照,星 博文
申请号:
JP2017016053
公开号:
JP2018124766A
申请日:
2017.01.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
To provide a physical condition failure prediction method capable of suppressing learning of a relationship between a physical condition failure and its occurrence factor when occurrence prediction of physical condition failure is lost. SOLUTION: The physical condition defect prediction method refers to a storage unit that stores a relationship between a physical condition failure and a cause of occurrence of a physical condition for each type of physical condition, specifies a planned date of occurrence at which a physical condition occurs, In the case where no physical condition occurs on the scheduled date of occurrence, it is judged whether or not the occurrence factor has changed since the scheduled occurrence date was specified, and if the occurrence factor has changed, the cause of occurrence has not changed In the case where the computer learns the relationship at a learning degree lower than the learning of the relationship to be executed, the processing is executed. (FIG.【課題】体調不良の発生予測が外れた場合に、体調不良とその発生要因の関係性の学習を抑制できる体調不良予測方法を提供する。【解決手段】体調不良予測方法は、体調不良と体調不良の発生要因との関係性を体調不良の種別毎に記憶する記憶部を参照して、体調不良が発生する発生予定日を特定し、発生予定日に体調不良が発生しなかった場合、発生予定日を特定してから発生要因が変化しているか否かを判定し、発生要因が変化している場合、発生要因が変化していない場合に実行される関係性の学習より低い学習度合で関係性を学習する、処理をコンピュータが実行する。【選択図】図23
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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