一种测试装置和测试方法

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专利权人:

华勤通讯技术有限公司

发明人:

方志刚,黄飞

申请号：

CN201910833567.X

公开号：

CN110522437A

申请日:

2019.04.09

申请国别(地区):

CN

年份:

2019

代理人:

摘要：

本发明公开了一种测试装置和测试方法,用于提高测试效果和测试效率。本发明实施例提供的测试装置包括暗箱和反射部件,其中,暗箱内设有密封的腔体,所述暗箱的表面设有开孔,该开孔和该腔体连通。反射部件设置在该腔体内,所述反射部件的反射面与所述开孔相对,所述反射面用于反射从所述开孔射入的测试光信号,所述测试光信号为待测试的电子设备发出的光信号。这样,待测试的电子设备发出测试光信号,该测试光信号通过暗箱上的开孔进入该暗箱的腔体内,照射到反射部件的反射面,并被该反射面从该开孔反射出暗箱的腔体。通过反射回的测试光信号可对电子设备的功能进行测试。通过该测试装置完成对电子设备的测试,提高了测试效果和测试效率。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/