CT约束的电阻抗医疗成像方法
- 专利权人:
- 中国科学技术大学
- 发明人:
- 张捷,李子昂
- 申请号：
- CN201810335355.4
- 公开号：
- CN108888268B
- 申请日:
- 2018.13.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 一种CT约束的电阻抗医疗成像方法,包括:(1)在待测区域布设电极,所述电极包括注入电极和测量电极;(2)向注入电极注入微电流,通过测量电极获取测量电压,与此同时,对待测部位进行CT影像扫描,获取待测部位CT值;(3)按照经验,建立一个应用于成像的初始模型;(4)执行CT约束下的电阻抗联合反演过程;(5)获取电压残差曲线,判断电压残差曲线是否收敛,如果不收敛,将新的电阻抗模型定义为初始模型,计算电压残差,计算交叉梯度函数,再次进行迭代得到新的电阻抗模型;如果收敛,则输出当前反演所得电阻抗模型,作为最终反演结果。本发明所述方法能显著提高传统EIT成像的空间分辨率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
