一种基于高光谱图像技术区分大米产地的检测方法
- 专利权人:
- 华南理工大学
- 发明人:
- 孙大文,王璐,曾新安,刘丹
- 申请号：
- CN201410438820.9
- 公开号：
- CN104215584B
- 申请日:
- 2014.08.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 陈文姬
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于高光谱图像技术区分大米产地的检测方法，包括以下步骤：(1)黑白板校正：(2)训练过程：先采集训练样本图像，再对样板图像进行校正、提取感兴趣区域、特征提取，所述特征包括每个产地大米样本的垩白粒率、每个大米颗粒的长宽比和15个纹理特征值，再用概率神经网络PNN方法建立预测模型；(3)对待测大米样品进行测试。本发明的检测方法快速、稳定，并且同时有效地提高了分类的准确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
