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計測装置及び計測方法
专利权人:
学校法人;埼玉医科大学
发明人:
戸井田 昌宏
申请号:
JP2012039854
公开号:
JP5901346B2
申请日:
2012.02.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring instrument and measuring method capable of simultaneously measuring form information and molecular information of a test object.SOLUTION: The measuring instrument includes a light source part 10 for generating pump light P and stokes light S, a pulse extension part 30 for extending a pulse of the pump light P to make the pulse width of the strokes light S shorter than pulse width of the pump light P, a light division part 41 for dividing the strokes light S, a light scanning part 50 for scanning pulse-extended pump light P and one divided strokes light SM on the test object S, a first light detection part 70 for detecting anti-strokes light AS from the test object S, a second light detection part 80 for detecting interference light between the other divided strokes light SS and reflected light of the strokes light SM from the test object S, and a signal processing part 90 for performing image generation processing on the basis of a detection signal from the first light detection part 70 and a detection signal from the second light detection part 80.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】 被検体の形態情報と分子情報を同時に計測することが可能な計測装置及び計測方法を提供すること。【解決手段】 ポンプ光P及びストークス光Sを発生する光源部10と、ポンプ光Pのパルスを伸長して、ストークス光Sのパルス幅をポンプ光Pのパルス幅よりも短くするパルス伸長部30と、ストークス光Sを分割する光分割部41と、パルス伸長されたポンプ光Pと分割された一方のストークス光SMとを被検体S上で走査させる光走査部50と、被検体Sからのアンチストークス光ASを検出する第1の光検出部70と、分割された他方のストークス光SSと、被検体Sからのストークス光SMの反射光との干渉光を検出する第2の光検出部80と、第1の光検出部70からの検出信号と、第2の光検出部80からの検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理部90とを含む。【選択図】 図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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