An imaging device (010, 10, 110) comprises a first optical system (020, 20, 120) at a distal end of the imaging device, a second optical system (080, 80, 180) towards the proximal end of the imaging device, and a sensor (074, 74, 174) at the proximal end of the imaging device. The first and second optical systems and the sensor are aligned along a common longitudinal axis. The first optical system is or comprises one or more reflective and/or refractive optical components (24, 124； 22, 122) symmetrically and/or coaxially arranged with respect to the longitudinal axis, and the second optical system comprises one or more reflective and/or refractive optical components (24, 124； 22, 122) for focussing incident light towards the sensor. A calibration system (200) and method for calibrating such an imaging device, and a method of processing image data obtained from such an imaging device are also provided.L'invention concerne un dispositif d'imagerie (010, 10, 110) comportant un premier système optique (020, 20, 120) à une extrémité distale du dispositif d'imagerie, un second système optique (080, 80, 180) vers l'extrémité proximale du dispositif d'imagerie, et un capteur (074,74, 174) à l'extrémité proximale du dispositif d'imagerie. Les premier et second systèmes optiques et le capteur sont alignés selon un axe longitudinal commun. Le premier système optique présente ou comporte un ou plusieurs composants optiques réfléchissants et/ou réfractifs (24, 124； 22, 122) disposés symétriquement et/ou coaxialement par rapport à l'axe longitudinal, et le second système optique comprend un ou plusieurs composants optiques réfléchissants et/ou réfractifs (24, 124； 22, 122) pour focaliser la lumière incidente vers le capteur. L'invention concerne également un système d'étalonnage (200) et un procédé d'étalonnage d'un tel dispositif d'imagerie, et un procédé de traitement de données d'image obtenues à partir d'un tel dispositif d'imagerie.
