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基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法和系统
- 专利权人:
- 南京航空航天大学
- 发明人:
- 吴彤,王青青,刘友文,王吉明,赫崇君,顾晓蓉
- 申请号：
- CN201610343305.1
- 公开号：
- CN105996999A
- 申请日:
- 2016.05.19
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法与系统。根据微粒浓度不同衰减系数不同的规律，通过测量介质空间分辨的光学衰减系数能够对其内部微结构进行成像。近红外激光光束通过样品浅层区域时以单次散射为主，通过深层区域时以多次散射为主。本发明采用深度分辨的单次散射模型测量样品浅层区域散射系数，应用基于扩展的惠更斯‑菲涅尔原理的多次散射模型结合分段拟合技术测量样品深层区域散射系数。对从OCT系统采集到的干涉光谱信号进行数据处理，可将OCT强度数据相应转换成浅层和深层衰减系数数据，对重建的浅层高空间分辨率散射系数图像和深层高测量精度散射系数图像进行拼接，可实现样品高分辨率高测量精度的衰减系数成像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
