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MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, AND MEASURING PROGRAM
专利权人:
京セラ株式会社;KYOCERA CORP
发明人:
HIGUCHI DAISUKE,樋口 大輔
申请号:
JP2016139565
公开号:
JP2018007894A
申请日:
2016.07.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring device, a measuring method, and a measuring program that can eliminate noise.SOLUTION: A light emitting unit 16 emits irradiation light 22 to a region 50. The light receiving unit 18 detects scattering light 24 from the region 50 corresponding to the irradiation light 22. A control unit 12 causes first irradiation light of first intensity and second irradiation light of second intensity lower than the first intensity to be emitted from the light emitting unit 16. The control unit 12 detects a predetermined signal on the basis of first scattering light detected by the light receiving unit 18 corresponding to the first irradiation light and second scattering light detected by the light receiving unit 18 corresponding to the second irradiation light.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】ノイズを除去できる測定装置、測定方法及び測定プログラムを提供する。【解決手段】発光部16は、部位50に対する照射光22を射出する。受光部18は、照射光22に応じた、部位50からの散乱光24を検出する。制御部12は、第1の強度の第1照射光と、第1の強度よりも低い第2の強度の第2照射光とを発光部16から射出させる。制御部12は、第1照射光に応じて受光部18で検出される第1散乱光と、第2照射光に応じて受光部18で検出される第2散乱光とに基づいて所定の信号を検出する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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