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阻抗测量设备
专利权人:
意法半导体股份有限公司
发明人:
M·帕索尼,A·卡吉迪亚克,S·罗西
申请号:
CN201720694781.8
公开号:
CN207928317U
申请日:
2017.06.14
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本公开涉及阻抗测量设备。在该装置中,存储器存储多个补偿参数,并且第一检测通道接收第一检测信号、使用该多个补偿参数中的第一补偿参数来补偿该第一检测信号。在该方法和装置中,第二检测通道接收第二检测信号和第三检测信号,并使用该多个补偿参数中的第二和第三补偿参数以及该经补偿的第一检测信号来补偿该第二和第三信号。该阻抗测量设备基于该经补偿的第一、第二和第三检测信号生成代表第一阻抗测量结果的第一输出信号以及代表第二阻抗测量结果的第二输出信号。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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