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Procedure to analyze the structure of an electrically conductive object
专利权人:
Wei;Wang
发明人:
Wang, Wei
申请号:
ES08775751
公开号:
ES2648227T3
申请日:
2008.06.06
申请国别(地区):
ES
年份:
2017
代理人:
摘要:
Procedure for analyzing the structure of an electrically conductive object, the procedure comprising the following steps: (i) obtaining electrical impedance data for the object over a frequency range; (ii) analyze the electrical impedance data obtained using a transfer function of an electrical model adopted to determine a plurality of electrical impedance properties for the object; and (iii) form images of one or more values as a function of one or more of the plurality of determined properties of electrical impedance for the object.Procedimiento para analizar la estructura de un objeto eléctricamente conductor, comprendiendo el procedimiento las etapas siguientes: (i) obtener unos datos de impedancia eléctrica para el objeto sobre un intervalo de frecuencias; (ii) analizar los datos de impedancia eléctrica obtenidos usando una función de transferencia de un modelo eléctrico adoptado para determinar una pluralidad de propiedades de impedancia eléctrica para el objeto; y (iii) formar imágenes de uno o más valores en función de una o más de entre la pluralidad de propiedades determinadas de impedancia eléctrica para el objeto.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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