Ophthalmic devices, the return beam and the measurement from the inspection in testing the measuring beam on the basis of the sum pabim obtained by multiplexing the reference beam corresponding to the beam, the tomographic image acquisition section for acquiring a tomographic image of the eye to be examined portion, and the measuring beam and the optical path length difference changing unit for changing the optical path length difference between the reference beam and the eye to be examined when sikyeoteul on the basis of the image of the anterior segment wherein in the test measurement optical system for irradiating a beam with the relative position between the subject eye anterior segment meets a predetermined condition, the optical path length difference in a predetermined range wherein the optical path length difference between a control unit for controlling a change to be in.안과장치는, 측정빔을 조사한 피검안으로부터의 귀환빔과 상기 측정빔에 대응하는 참조빔을 합파하여 얻어진 합파빔에 의거하여, 상기 피검안의 단층화상을 취득하는 단층화상 취득부와, 상기 측정빔과 상기 참조빔과의 광로길이 차이를 변경하는 광로길이 차이 변경부와, 상기 피검안 전안부의 화상에 의거하여 상기 피검안에 상기 측정빔을 조사하는 광학계와 상기 피검안 전안부와의 상대 위치가 소정의 조건을 충족시켰을 경우에, 상기 광로길이 차이가 소정의 범위내에 있도록 상기 광로길이 차이 변경부를 제어하는 제어부를 구비한다.
