容器检查
- 专利权人:
- 霍伊夫特系统技术有限公司
- 发明人:
- B·霍伊夫特
- 申请号：
- CN201580019690.8
- 公开号：
- CN106415250B
- 申请日:
- 2015.17.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于检查空的容器的杂质的设备,其包括:用于产生激发射束的辐射源(1),其中,激发射束被引到容器的内壁上并且激发需探测的杂质发出发光射束,至少一个用于探测由杂质发出的发光射束的装置(5),以及用于对探测到的发光射束进行分析处理的装置。本发明还涉及一种用于检查空的容器的杂质的相应方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
