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細隙灯顕微鏡
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
MIYASHITA KENJI,宮下 賢治,TAKEDA TAKANORI,武田 孝紀,WATANABE TAKAHIRO,渡辺 孝浩
申请号:
JP2012175278
公开号:
JP2014033734A
申请日:
2012.08.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of easily reproducing a closed state of slit blazes in a slit-lamp microscope using an electric mechanism.SOLUTION: The slit-lamp microscope according to one embodiment includes a light source, a pair of slit blades, an actuator, a mechanism, a detection unit, a storage unit, and a control unit. The light source emits illumination light. The slit blades generate slit light from the illumination light. The actuator generates drive force. The mechanism changes an interval between the slit blades on the basis of the drive force. The detection unit detects that the slit blades are located at a prescribed reference position. The storage unit prestores distance information representing a distance between a position of the slit blades in the closed state of the slit blades and the reference position. When the detection part detects that the slit blades are located at the reference position, the control unit controls the actuator on the basis of the distance information to locate the slit blades in the closed state.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】電気的な機構を用いた細隙灯顕微鏡においてスリット刃を閉じた状態を容易に再現する技術を提供する。【解決手段】実施形態の細隙灯顕微鏡は、光源と、一対のスリット刃と、アクチュエータと、機構と、検出部と、記憶部と、制御部とを有する。光源は、照明光を発する。スリット刃は、照明光からスリット光を生成する。アクチュエータは、駆動力を発生する。機構は、駆動力に基づいてスリット刃の間隔を変更する。検出部は、スリット刃が所定の基準位置に位置していることを検出する。記憶部は、スリット刃が閉じた状態におけるスリット刃の位置と、基準位置との間の距離を示す距離情報をあらかじめ記憶する。制御部は、検出部によりスリット刃が基準位置に位置していると検出されたときに、距離情報に基づいてアクチュエータを制御することによりスリット刃を閉じた状態に位置させる。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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