半导体激光近、远场分布观测装置
- 专利权人:
- 长春理工大学
- 发明人:
- 王晓华,王勇,赵英杰,姜晓光,刘波
- 申请号：
- CN200610007505.6
- 公开号：
- CN1821798A
- 申请日:
- 2006.02.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2006
- 代理人:
- 曲博
- 摘要：
- 半导体激光近、远场分布观测装置属于半导体激光器器件测试技术领域。现有技术是将激光近、远场分布光斑转换为电信号后进行测试，缺乏直观性；另外，在远场分布测试上缺乏确定的方案，在列阵芯片测试方面手段欠便捷，效率低。本发明采用光学透镜系统和变像管这两个主要观测部件，并可构成两种工作状态，从而可以通过肉眼直接观测，包括单芯、阵列芯片的近、远场分布。本发明可应用半导体物理的教学和科研领域，还可以应用于半导体激光器器件的生产领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
