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基于MLEM的自适应FISTA初始图像的定量锥束X射线发光计算机断层扫描方法
- 专利权人:
- 中国人民解放军空军军医大学
- 发明人:
- 刘天帅,阮佳斌,戎军艳,郝文卿,刘洋,卢虹冰
- 申请号：
- CN202110245502.0
- 公开号：
- CN113057582B
- 申请日:
- 2021.03.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2023
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了基于MLEM的自适应FISTA初始图像的定量锥束X射线发光计算机断层扫描方法，锥束X射线发光计算机断层成像(CB‑XLCT)作为一种新型双模光学分子成像技术，在肿瘤诊断和治疗中有着巨大的应用前景。其需要描述PNPs浓度与重建亮度之间的定量关系，为了使定量评价可行，本方法有两个主要步骤：首先，自适应FISTA在迭代后自动调整正则化参数，快速得到稀疏解。其次，将稀疏解作为MLEM的初始迭代值，不仅减少了重建时间，而且提高了重建值的精度。通过数字模拟和仿体实验的结果表明，ADMLEM可以描述PNPs浓度与重建亮度之间的定量关系。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
