Fault image systemHaving a memory and a data processing component having at least one processorAt least one processorA plurality of antennas disposed around the object at the boundary sAccess scattering parameter data representing electromagnetic waves scattered by internal features of the objectTo generate a reconstructed image representing the spatial distribution of the internal features of an objectIt is configured to process scattering parameter dataTheIs a process for solving electromagnetic inverse problemsThe inverse and reverse process of inverse problemsEach differential equation associated with an electric field for determining values for an electric field is represented and solved.AndThe method of processing the determined value of the electric field to generate reconstructed image data representing one or more spatial distributions of one or more electromagnetic properties within the object, includingIt is characterized by the following.断層画像システムは、メモリおよび少なくともひとつのプロセッサを有するデータ処理コンポーネントを有し、少なくともひとつのプロセッサは、境界Ｓにおいて物体の周りに配置された複数のアンテナから生じ、物体の内部の特徴によって散乱される電磁波を表す散乱パラメータデータにアクセスし、物体の内部の特徴の空間分布を表す再構成画像を生成するべく、散乱パラメータデータを処理するように構成されており、当該処理は、電磁気逆問題を解法する工程であって、逆問題の順および逆工程は、電場に対する値を決定するための電場に関連する各微分方程式として表されかつ解法される、ところの工程と、物体の内部の一つ以上の電磁気特性の一つ以上の空間分布を表す再構成画像データを生成するべく電場の決定された値を処理する工程とを含む、ことを特徴とする。
