与水稻白叶枯抗病基因xa34(t)共分离的InDel分子标记及其检测引物与应用

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专利权人:

广东省农业科学院植物保护研究所

发明人:

汪聪颖,陈深,冯爱卿,苏菁,汪文娟,封金奇,陈炳,伍圣远,张梅英,杨健源,曾列先,朱小源

申请号：

CN201810154909.0

公开号：

CN108103237A

申请日:

2018.02.23

申请国别(地区):

中国

年份:

2018

代理人:

苏运贞

摘要：

本发明公开了一种与水稻白叶枯抗病基因xa34(t)共分离的InDel分子标记及其检测引物与应用。该InDel分子标记包括如SEQ ID NO.1所示的核苷酸序列。该InDel分子标记为共显性标记，能够区分纯合子和杂合子，适用于鉴别水稻白叶枯病抗性品种。该InDel分子标记特异性高；条带差异很大，用琼脂糖凝胶电泳即可清晰区分。本发明还提供了该InDel分子标记的检测引物，其由如SEQ ID NO.3所示的引物和如SEQ ID NO.4所示的引物组成。本发明还提供了该InDel分子标记的检测试剂盒，其包含前述检测引物。使用该检测引物或检测试剂盒，能大大加快水稻广谱抗白叶枯病分子育种的进程。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/