一种Cd污染水稻叶片特征光谱信息的提取方法
- 专利权人:
- 中国科学院沈阳应用生态研究所
- 发明人:
- 迟光宇,郑太辉,陈欣,史奕
- 申请号：
- CN200910248687.X
- 公开号：
- CN102109462A
- 申请日:
- 2009.12.23
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 许宗富`周秀梅
- 摘要：
- 本发明涉及一种Cd污染水稻叶片特征光谱的提取方法。具体为将水稻种子消毒后置于无Cd污染的土壤中于恒温光照培养，待植株生长3-4片叶后置于Cd污染土壤中，连续胁迫培养12-15d后，而后根据提取敏感参数，测定表征Cd污染水稻叶片的光谱特征；本发明将Cd污染水稻叶片多波段的光谱数据进行整合，选取的参数灵敏度高，信息提取方法简单且准确可靠，可以及时反映水稻叶片光谱特征，为Cd污染水稻的定量遥感奠定理论基础。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
