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OPHTHALMIC EXAMINATION APPARATUS AND OPHTHALMIC EXAMINATION SYSTEM
专利权人:
发明人:
Shigetaka TSURI
申请号:
US15077202
公开号:
US20160360958A1
申请日:
2016.03.22
申请国别(地区):
US
年份:
2016
代理人:
摘要:
According to one embodiment, an ophthalmic examination apparatus includes an examination unit and an analyzer. The examination unit is used to optically examine a subjects eye. The analyzer is configured to analyze examination data obtained by the examination unit, and thereby generate risk information indicating the risk of a specific disease.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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