A system (500) and method for quality control of an imaging device. The method for quality control of the imaging device is implemented on an apparatus including a scanner (510) and a couch (520), the scanner (510) including multiple detection units (511), and the couch (520) being configured to support at least two radiation sources (921). The method may include obtaining an instruction regarding a couch (520) motion mode of the couch (520). The method may also include directing the couch (520) to move along an axial direction of the scanner (510) according to the instruction. The method may further include detecting, by the multiple detection units (511), target particles from the at least two radiation sources (921) under the couch (520) motion mode, wherein each two neighboring radiation sources (921) of the at least two radiation sources (921) are spaced apart, and a length of each radiation source (921) is less than a length of the scanner (510) in the axial direction of the scanner (510).L'invention concerne un système (500) et un procédé de contrôle de qualité d'un dispositif d'imagerie. Le procédé de contrôle de qualité du dispositif d'imagerie est mis en œuvre sur un appareil comprenant un scanner (510) et une couchette (520), le scanner (510) comprenant de multiples unités de détection (511), et la couchette (520) étant conçue pour accueillir au moins deux sources de rayonnement (921). Le procédé peut comprendre l'obtention d'une instruction concernant un mode de mouvement de couchette (520) de la couchette (520). Le procédé peut également consister à diriger la couchette (520) pour qu'elle se déplace le long d'une direction axiale du scanner (510) selon l'instruction. Le procédé peut en outre comprendre la détection, par les multiples unités de détection (511), de particules cibles à partir des deux sources de rayonnement (921) ou plus sous le mode de mouvement de couchette (520), chacune de deux sources de rayonnement voisines (921) desdites deux source
