Source grating for X-ray imaging

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专利权人:

コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ

发明人:

コエラー トーマス,プロクサ ローランド

申请号：

JP2019512893

公开号：

JP2019531120A

申请日:

2017.08.30

申请国别(地区):

JP

年份:

2019

代理人:

摘要：

A source grating structure (G0) for an interferometric X-ray imaging cable is proposed that generates a non-uniform intensity profile behind the grating structure surface (S) when exposed to X-ray radiation.Ｘ線放射に曝されるときに格子構造の表面（Ｓ）の背後に不均一な強度プロファイルを生成する干渉Ｘ線撮像ケーブル用の線源格子構造（Ｇ０）が提案される。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/