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シワ分析方法及びシワ分析装置
专利权人:
KAO CORP
发明人:
NAKAGAWA NORIAKI,中川 典昭,TOMINAGA SHOJI,富永 昌二,HORIUCHI TAKAHIKO,堀内 隆彦,AKIYAMA TAKUMI,秋山 拓巳
申请号:
JP2013174179
公开号:
JP2015042200A
申请日:
2013.08.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To quantify a skin wrinkle condition highly accurately on the basis of skin images.SOLUTION: An analytical method for wrinkles includes steps as follows: obtaining a brightness image of skin at an analyzed-targets position obtaining a binary pattern image showing a topical wrinkle texture thereafter, producing a correlation image by sliding the binary pattern image on the brightness image of the skin and successively calculating correlation values between the binary pattern image and the brightness image of the skin producing a binary image by binarizing the correlation image producing a thinned image by thinning the binary image and extracting the information of lengths of line segments from the thinned image.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】肌画像に基づいて肌のシワの状態を高精度に定量化する。【解決手段】シワ分析方法は、分析対象部位の肌輝度画像を取得し、局所シワテクスチャを表す二値パターン画像を取得し、二値パターン画像を肌輝度画像上でスライドさせながら、二値パターン画像と肌輝度画像との相関値を逐次算出することにより、相関画像を生成し、相関画像を二値化することで二値化画像を生成し、二値化画像を細線化することで細線化画像を生成し、細線化画像から線分長情報を抽出する、ことを含む。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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