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광 단층촬영용 프로브 및 이를 이용한 광 간섭성 단층촬영 장치
专利权人:
SOURCETEK CO.; LTD.
发明人:
LEE, WOO MIKR,이우미
申请号:
KR1020140040145
公开号:
KR1020150115323A
申请日:
2014.04.03
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present invention relates to a probe for optical tomography and to an optical coherence tomographic device using the same and, more specifically, to a probe for optical tomography and to an optical coherence tomographic device using the same, wherein an optical signal having a time difference can be obtained for each scanned position of a subject to be examined without operating a separate mechanical scanner by arranging optical fiber having a different length by scanned position on the probe for radiating and transceiving the subject to be examined so that the optical signal can be transceived through the optical fiber with a different length. In the probe for optical tomography including a probe terminal for radiating an optical signal, which is generated from a light source to enter, to multiple scanned positions of the subject to be examined, receiving the optical signal reflected or scattered on each of the scanned positions, and transmitting the optical signal to a photodetector, the optical signal entering the probe terminal from the light source branches into many to correspond to the scanned positions respectively, each of which enters the probe terminal through a light delay path having different light delay time, and is radiated to each scanned position with a time difference.COPYRIGHT KIPO 2016본 발명은 광 단층촬영용 프로브 및 이를 이용한 광 간섭성 단층촬영 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사대상에 빔을 조사하고 송수신하는 프로브에 각 스캔 위치별로 서로 길이가 다른 광섬유가 배열되어 그 길이가 다른 광섬유를 통하여 광신호가 송수신되도록 함으로써 별도의 기계적인 스캐너의 구동없이 검사대상의 스캔 위치별로 시간차를 갖는 광신호를 획득할 수 있는 광 단층촬영용 프로브 및 이를 이용한 광 간섭성 단층촬영 장치에 관한 것이다.본 발명에 따른 광 단층촬영용 프로브 및 광 간섭성 단층촬영 장치는, 광원으로부터 발생되어 입사된 광신호를 검사대상의 복수의 스캔 위치에 조사하고 그 스캔 위치 각각으로부터 반사 또는 산란된 광신호를 수신하여 광검출기로 송신하는 프로브 단말이 구비된 광 단층촬영용 프로브에 있어서, 상기 광원으로부터 상기 프로브 단말로 입사되는 광신호는 상기 스캔 위치 각각에 대응되게 복수로 분기되어 각각 서로 다른 광지연 시간을 갖는 광지연 경로를 통해 상기 프로브 단말로 입사되어 각 스캔 위치로 시간차를 갖고 조사되는 것을 특징으로 한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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