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전자-정공쌍이 발생하는 횟수에 따라 X 선을 검출하는 X 선 검출기
专利权人:
MARU LSI CO.; LTD.
发明人:
NAM, JUNG HYUNKR,남정현
申请号:
KR1020120143734
公开号:
KR1020140075423A
申请日:
2012.12.11
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
According to an embodiment of the present invention, an X-ray detector comprises: an X-ray source which radiates first X-rays and second X-rays with a different energy level from each other an X-ray detecting unit which generates a pair of electron-holes according to the incidence of the first and second X-rays in order to output a signal according to a transmission distance of the first and second X-rays and a signal processing unit which generates an output signal having information on the transmission distance of the first and second X-rays and information on the intensity of the first and second X-rays at the transmission distance, and which obtains information on the number of the occurrence of the pair of electron-holes corresponding to at least one among multiple voltage areas by the first and second X-rays.COPYRIGHT KIPO 2014본 발명의 실시예에 따른 X 선 검출기는 서로 다른 에너지 레벨을 지닌 제1 X 선과 제2 X 선을 방출하는 X 선 소스, 상기 제1 X 선과 상기 제2 X 선의 입사에 따라 전자-정공쌍을 생성하여 상기 제1 X 선과 상기 제2 X 선의 투과 거리에 따른 신호를 출력하는 X 선 검출부 및 상기 제1 X 선과 상기 제2 X 선의 투과거리에 대한 정보와, 상기 투과거리에서의 상기 제1 X 선 및 상기 제2 X 선의 세기에 대한 정보를 갖는 출력신호를 생성하며, 상기 제1 X 선 및 상기 제2 X 선에 의하여 복수의 전압영역들 중 적어도 하나에 해당되는 상기 전자-정공쌍이 발생하는 횟수에 대한 정보를 획득하는 신호 처리부를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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