Disclosed is a measurement method performed by a Computed Tomography, CT, system. The CT system includes an x-ray source (60) and an x-ray detector (50) array of photon counting edge-on detectors (5), wherein each photon counting edge-on detector has a number of depth-segments, also referred to as detector elements, arranged at different spatial locations in the direction of incoming x-rays (45). The method includes to apply a time offset measurement scheme that provides a time offset between measurement periods for at least two different detector elements located at different depths, wherein the time offset is chosen so that at least two measurement periods at least partially overlaps in time. Disclosed is also a corresponding CT system (10), a control unit for a CT system and a measurement circuit for a CT system. A computer program (225) controlling a CT system is also disclosed. The disclosed technology provides for a higher sampling frequency in the angular direction (55).L'invention concerne un procédé de mesure effectué par un système de tomodensitométrie CT (10). Le système CT (10) comprend une source de rayons X et un réseau de détecteurs de rayons x composé de détecteurs de bord à comptage de photons, chaque détecteur de bord comportant un certain nombre de segments de profondeur, également appelés des éléments détecteurs (15), disposés à différents emplacements spatiaux dans le sens des rayons X entrants. Le procédé consiste à appliquer un schéma de mesure à décalage de temps qui fournit un décalage temporel entre des périodes de mesure pour au moins deux différents éléments détecteurs (15) situés à des profondeurs différentes, le décalage temporel étant choisi de telle sorte qu'au moins deux périodes de mesure se chevauchent au moins partiellement dans le temps. L'invention concerne également un système CT correspondant (10), une unité de commande (20) d'un système CT et un circuit de mesure (30) d'un système CT (10). L'invention concerne également un pr
