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表面加工状態の評価システムおよび評価方法
- 专利权人:
- 株式会社日立製作所
- 发明人:
- 王 ユウ
- 申请号：
- JP20140553927
- 公开号：
- JPWO2014102919(A1)
- 申请日:
- 2012.12.26
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本願発明は、溶接金属のようなＸ線回折強度の方向依存性を持つ集合組織や粗大結晶材料においても、測定対象物の表面加工状態を非破壊的に評価することが可能なシステムおよび方法を提供することを目的とする。本願発明における課題を解決する手段は、二次元Ｘ線回折斑点のＸ線入射中心に対する半径方向のＸ線強度曲線の半価幅から装置による半価幅を差し引いた後の値と、Ｘ線入射中心に対する中心角との、全周範囲での定積分を二次元Ｘ線回折パラメータとして求め、予め求めた二次元Ｘ線回折パラメータと塑性ひずみ又は硬さのうち少なくともいずれか１つの物理量との関係から測定対象物の表面加工状態を評価することを特徴とする。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
