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IMAGERIE DIFFÉRENTIELLE EN CONTRASTE DE PHASE
专利权人:
Philips Intellectual Property & Standards GmbH;Koninklijke Philips Electronics N.V.
发明人:
申请号:
EP11778705.1
公开号:
EP2630477A1
申请日:
2011.10.12
申请国别(地区):
EP
年份:
2013
代理人:
摘要:
The present invention relates to differential phase-contrast imaging, in particular to a structure of a diffraction grating, e.g. an analyzer grating and a phase grating, for X-ray differential phase-contrast imaging. In order to make better use of the X-ray radiation passing the object, a diffraction grating (14) for X-ray differential phase-contrast imaging is provided with at least one portion (24) of a first sub-area (26) and at least one portion (28) of a second sub-area (30). The first sub-area comprises a grating structure (54) with a plurality of bars (34) and gaps (36) being arranged periodically with a first grating pitch P G (38), wherein the bars are arranged such that thy change the phase and/or amplitude of an X-ray radiation and wherein the gaps are X-ray transparent. The second sub-area is X-ray transparent and wherein the at least one portion of the second sub-area provides an X-ray 1 transparent aperture (40) in the grating. Portions of the first and second sub-areas are arranged in an alternating manner in at least one direction (42).Cette invention concerne l'imagerie différentielle en contraste de phase, en particulier, une structure de réseau de diffraction, par exemple, un réseau d'analyseur et un réseau de phase, pour la radiographie X différentielle en contraste de phase. Pour mieux exploiter le rayonnement X traversant l'objet, un réseau de diffraction (14) pour la radiographie X différentielle en contraste de phase comporte au moins une partie (24) d'une première sous-zone (26) et au moins une partie (28) d'une seconde sous-zone (30). La première sous-zone comprend une structure de réseau (54) constituée d'une pluralité de barres (34) et d'espaces (36) agencés périodiquement selon un premier pas de réseau P G (38), les barres étant agencées de manière à modifier la phase et/ou l'amplitude d'un rayonnement X et les espaces étant transparents aux rayons X. La seconde sous-zone est transparente aux rayons X et ladite au moins partie de la sec
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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