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コンピュータ断層撮影検査におけるx線量分布計算
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ
发明人:
プリンセン,ペーテル,ウィーヘルト,イェンス,ロレンツ,クリスティアン,ルッペルツホーフェン,ヘイケ
申请号:
JP2015559524
公开号:
JP2016508403A
申请日:
2014.04.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
present invention relates to a device for calculating the x dose distribution within the object in computer tomography examination (18). First, the primary flux determination unit (15) determines a primary flux distribution within the object, then the total flux determination unit (16), while applying Six flux model algorithm, the determined primary flux distribution used as an initial total flux distribution. This determination of the total flux distribution is, it possible to start with relatively good first approximation of the total flux distribution, therefore, Six flux model algorithm can be determined very quickly total flux distribution . The total flux distribution determined is finally used by the dose distribution determination unit (17) to determine the total dose distribution. Therefore, this device allows for very fast determination of x dose distribution in computer tomography examination.本発明は、コンピュータ断層撮影検査における対象物内のx線量分布を計算する装置(18)に関する。先ず、一次フラックス決定ユニット(15)が、対象物内の一次フラックス分布を決定し、次いで、総フラックス決定ユニット(16)により、シックスフラックスモデルアルゴリズムを適用しながら、この決定された一次フラックス分布が当初の総フラックス分布として用いられる。これは、総フラックス分布の決定が、総フラックス分布の比較的良好な最初の近似で開始することを可能にし、それ故に、シックスフラックスモデルアルゴリズムは、非常に速く総フラックス分布を決定することができる。決定された総フラックス分布は、最終的に、総線量分布を決定するために線量分布決定ユニット(17)によって使用される。故に、この装置は、コンピュータ断層撮影検査におけるx線量分布の非常に高速な決定を可能にする。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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