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PHOROPTOR AND METHOD FOR MEASURING REFRACTION USING A PHOROPTOR OF SAID TYPE
专利权人:
에실러에떼르나쇼날(꽁빠니제네랄돕띠끄)
发明人:
보우티논, 스테판,데제도르 델 리오, 빈센트,나우셰, 미셸
申请号:
KR1020167027962
公开号:
KR1020160142840A
申请日:
2015.04.07
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
The present invention provides a lithographic apparatus comprising a housing including a back surface including a front surface including a first optical window and a second optical window aligned with the first optical window with respect to the optical axis of observation; And at least one vision correction device seen along the viewing optical axis. Between the first window and the second window, the vision correction device comprises a first optical element having a spherical power along a variable optical axis. The housing is mounted on an orientation adjustable holder 104 that is rotatable about a horizontal axis H with respect to the fastening portion 102. A method of measuring refraction using a forctor of this type is also described.본 발명은 제1 광학 윈도우를 포함하는 전면, 및 관측 광학 축에 대해 제1 광학 윈도우와 정렬되는 제2 광학 윈도우를 포함하는 후면을 포함하는 하우징; 및 관측 광학 축을 따라 보여지는 적어도 하나의 비전 교정 디바이스를 포함하는 포롭터(100)에 관한 것이다. 제1 윈도우와 제2 윈도우 사이에서, 비전 교정 디바이스는 가변 광학 축을 따라 구면 도수를 갖는 제1 광학 요소를 포함한다. 하우징은 고정 부분(102)에 대해 수평 축(H)을 중심으로 회전할 수 있는 배향 조정 가능한 홀더(104) 상에 탑재된다. 상기 타입의 포롭터를 이용하여 굴절을 측정하는 방법이 또한 기술된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

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