您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Surface state measurement analysis information management system and surface state measurement analysis information management method
专利权人:
日立マクセル株式会社
发明人:
中島 弘恵,吉村 雅志
申请号:
JP2015504807
公开号:
JP5731724B1
申请日:
2014.10.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
Surface state measurement analysis information management system and surface state measurement analysis that enables the captured image data to be used effectively and can be displayed as a video or slide show when the target surface is continuously and periodically photographed. Provide information management methods. When the target surface is sequentially photographed corresponding to the passage of time and the photographed image data is sequentially stored, the images that are sequentially stored are compared, and the images substantially match each other. It is determined whether or not there is an area. When there is an image that has image regions that substantially match each other, a coordinate system is set with one image as a reference, and the image region that is substantially coincident with this one image is overlaid on the coordinate system of the other image. Determine the position. When an image whose position has not been determined, including an image captured after that, overlaps an image whose position has been determined, the position of the image is determined. 対象となる表面を継続して定期的に撮影した場合に、撮影された画像データを有効に利用可能とするとともに、動画やスライドショーとして表示可能にできる表面状態測定分析情報管理システムおよび表面状態測定分析情報管理方法を提供する。 時間経過に対応して対象となる表面が順次撮影されるとともに、撮影された画像データが順次記憶される場合に、順次記憶される画像同士を比較して、画像同士に、互いに略一致する画像領域が有るか否かを判定する。互いに略一致する画像領域がある画像がある場合に、一方の画像を基準とする座標系を設定し、この一方の画像と互いに略一致する画像領域を重ねた状態の他方の画像の座標系における位置を決定する。位置が決定した画像に対して、それ以後撮影される画像を含めて位置が決定していない画像が重なる場合に、その画像の位置を決定する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充