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X線撮影装置および二次元アレイX線検出器の欠損検出方法
专利权人:
SHIMADZU CORP
发明人:
SASAKI TAKASHI,佐々木 隆
申请号:
JP2011004773
公开号:
JP2012147301A
申请日:
2011.01.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray photographing device capable of preventing excessive registration of defective pixels resulting from the leak of current to the downstream side of a data bus line, and a missing detection method of a two-dimensional array X-ray detector.SOLUTION: A missing detection method of a two-dimensional array X-ray detector comprises: a dark current value measurement step for measuring a charge signal when a switching element is sequentially turned on with the conversion film of a flat panel detector not irradiated with an X-ray a defective pixel block extraction step for extracting a defective pixel block based on the pixel value of each pixel a defective pixel block determination step for determining whether or not each defective pixel block is an excessive defective pixel block including normal pixels based on the ratio of the size in a gate bus line direction to the size in a data bus line direction in each defective pixel block a normal pixel excluding step for excluding the normal pixels from the excessive defective pixel block and a defective registration step for registering the excessive defective pixel block, from which the normal pixels are excluded, with other defective pixels together.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】 データバスラインの下流側への電流のリークに起因する欠損画素の過剰登録を防止することが可能なX線撮影装置および二次元アレイX線検出器の欠損検出方法を提供する。【解決手段】 フラットパネルディテクタの変換膜にX線を照射していない状態でスイッチング素子を順次オン状態としたときの電荷信号を測定する暗電流値測定工程と、各画素の画素値に基づいて欠損画素塊を抽出する欠損画素塊抽出工程と、各欠損画素塊におけるゲートバスライン方向の寸法とデータバスライン方向の寸法との比に基づいて各欠損画素塊が正常画素を含む過剰欠損画素塊であるか否かを判定する欠損画素塊判定工程と、過剰欠損画素塊から正常画素を除外する正常画素除外工程と、正常画素を除外した過剰欠損画素塊を他の欠損画素とともに欠損登録する欠損登録工程とを備える。【選択図】 図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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