METHOD FOR PROCESSING SPECTRA OF RADIATION SCATTERED BY A MATERIAL IN ORDER TO OBTAIN A BASIC SPECTRUM OF RADIATION SCATTERED BY SAID MATERIAL, DEVICE AND ASSOCIATED COMPUTER PROGRAM
PAULUS, Caroline;COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES;COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES;TABARY, JOACHIM;COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES;RINKEL, Jean
发明人:
PAULUS, CAROLINE,PAULUS, Caroline,RINKEL, JEAN,RINKEL, Jean,TABARY, JOACHIM,TABARY, Joachim
申请号：
FRFR2011/051967
公开号：
WO2012/028806A1
申请日:
2011.08.25
申请国别(地区):
FR
年份:
2012
代理人:
摘要：
The invention relates to a method for obtaining a basic spectrum of radiation scattered by a material (100), in which: the material is exposed to an incident irradiation beam (115) emitted by a radiation source (110)； a first spectrum (150) of radiation scattered by the material (100) is measured by means of a principal detector (120), arranged such that the field of observation thereof (130) intersects the irradiation beam (115) within the material (100)； at least one other spectrum (152, 154, 156) of radiation scattered by the material (100), termed secondary spectrum, is measured by means of at least one secondary detector (122, 124, 126)； a matrix of the measurements (X) is formed from the spectra previously measured； said matrix of measurements is broken up into two non-negative matrices, namely a weight matrix (A) and a spectrum matrix (S), the latter comprising an estimated multiple scattered radiation spectrum and an estimated primary scattered radiation spectrum.L'invention concerne un procédé d'obtention d'un spectre de rayonnement premier diffusé par un matériau (100), dans lequel : on expose le matériau à un faisceau d'irradiation incident (115) émis par une source (110) de rayonnement；on mesure un premier spectre (150) de rayonnement diffusé par le matériau (100) à l'aide d'un détecteur principal (120), agencé de sorte que son champ d'observation (130) intersecte le faisceau d'irradiation (115) au sein du matériau (100),； on mesure au moins un autre spectre (152, 154, 156) de rayonnement diffusé par le matériau (100), dit spectre secondaire, à l'aide d'au moins un détecteur secondaire (122, 124, 126) on constitue une matrice des mesures (X) à partir des spectres précédemment mesurés； on décompose ladite matrice des mesures en deux matrices non négatives, à savoir une matrice des poids (A) et une matrice des spectres (S), cette dernière comprenant un spectre de rayonnement diffusé multiple estimé et un spectre de rayonnement diffusé primaire estimé.
