粒子束剂量评价系统、计划装置、粒子束照射系统以及剂量评价方法
- 专利权人:
- 株式会社日立制作所；国立大学法人北海道大学;株式会社日立制作所
- 发明人:
- 藤井祐介,松浦妙子,松崎有华,梅垣菊男,白土博树,儿矢野英典,山田贵启,藤本林太郎
- 申请号：
- CN201780021050.X
- 公开号：
- CN108883303A
- 申请日:
- 2017.03.23
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 具备记录标记位置数据和质子束照射数据的功能、工序。标记位置数据包括为了移动体追踪照射而测量出的标记29的位置信息和实施X射线拍摄的时刻的信息。质子束照射数据包含照射了各点的时刻、实际照射位置和实际照射量的信息。基于时刻信息,使这些标记位置数据与质子束照射数据同步,使用点照射时的标记位置数据和质子束照射数据来计算质子束照射的实际剂量分布。由此,能考虑相互作用效果的影响,由此在重新计划治疗计划时能辅助进行更适当的判断。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
